Xjp-300 Metallographic Materiaal, Draagbare Metallurgische Microscoop 160 Mm-Buis Lengnth

Xjp-300 Draagbare Metallurgische Microscoop

Xjp-300 zijn ideaal voor onderzoek van voorbereide oppervlakten op plaats. In het geval van gedetailleerde analyse in het laboratorium, wordt de replicauitrusting geadviseerd.

Xjp-300 verstrekt de draagbare microscoop tot de totale vergroting van 100x en van 500x met de doelstellingen van 10x en 50x-die als norm worden geleverd. De facultatieve doelstellingen van 20x en 80x-zijn beschikbaar.

Navulbaar gebouwd in LEIDENE verlichting zonder behoefte van elektrische voeding.

Met het magneetstadium, kunnen xjp-300 gemakkelijk tegen de oppervlakte van om het even welk ijzerhoudend materiaal bij om het even welke hoeken op vlakke en gebogen oppervlakten worden vastgemaakt.

Specificaties

Draagbare Metallurgische Microscoop

Basisvergroting: 100x - 800x

Ooglenzen: WF10X/FN18, Dia 23,2

Doelstellingen: 10x/0.25 (W.D. 7,3 mm), 50x/0.65 (W.D. 0.5mm)

C-onderstel adapter (voor het aansluiten van c-Onderstel camera's)

Mechanische buis lengnth 160 mm

Coaxiaal ruw/fijn nadruksysteem, waaier: 36mm

Het polariseren Uitrustingen: Polarisator en Analysator

Coaxiale verlichting, bouwstijl-in navulbare leiden, helderheid

regelbaar

Met inbegrip van draagbaar aluminiumgeval.

Toebehoren

Magneetstadium, Objectieve 20X, Objectieve 80X, het geval van het Aluminiumvervoer